元素及结构分析测试旨在评估物质的元素组成和结构特性，是微电子封装可靠性领域中常用的测试方法之一。CEMAR拥有先进的测试设备和专业的技术团队，可为客户提供包括元素成分、晶体结构、分子结构等在内的测试及分析服务。通过对电子元器件样品进行元素分析测试，可以准确地分析材料中的元素组成，有助于快速进行污染源定位和失效机理研究；通过晶体结构分析测试，可以找出材料中可能存在的晶格缺陷、晶格畸变等问题，从而确定失效的原因；通过分子结构测试，可以帮助客户了解材料的分子结构和化学键结构，以进行特定应用场景下的材料选型、分析产品失效机理、指导材料研发等。
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所属中心：工程材料及可靠性研究中心
联系人：黄晓凤（xfhuang@ust.hk）
